測(cè)包機(jī)專用CCD外觀檢測(cè)模塊
時(shí)間:2022-04-26 00:00:00 作者:wisdom 點(diǎn)擊:
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測(cè)包機(jī)專用CCD外觀檢測(cè)模塊
大家好,我是小編。今天給大家介紹測(cè)包機(jī)專用CCD外觀檢測(cè)模塊,以下內(nèi)容由小編整理,相關(guān)內(nèi)容供以參考。
在測(cè)包機(jī)(
編帶機(jī))上加裝專用CCD檢測(cè)模塊,檢測(cè)紙帶待包裝料是否有外觀缺陷;
此模塊可加裝到常見廠家的測(cè)包機(jī),如:Tokyo東京熔接、天正、新永豐等,特殊品牌可商定;
可在測(cè)包機(jī)導(dǎo)引盤(C型轉(zhuǎn)盤圓片)上加裝2個(gè)模塊,用于檢測(cè)正面和底面缺陷;
還可在導(dǎo)引盤后及上封膜封閉前加裝此模塊,檢測(cè)紙帶內(nèi)元件,確保檢出紙帶內(nèi)不良品;
加裝檢測(cè)模塊不影響原測(cè)包機(jī)處理速度,有利于產(chǎn)品質(zhì)量管控;
多種缺陷可檢測(cè),如:元件尺寸異常、電極破損、字碼缺陷、正反面錯(cuò)誤、立料等;
采用定制光源和進(jìn)口圖像采集硬件,快速獲取清晰圖像,準(zhǔn)確識(shí)別不良;
自主研發(fā)專用圖像處理與控制計(jì)算機(jī),硬件體積較一般工控機(jī)小,方便安裝,減少對(duì)設(shè)備的影響;
各種檢測(cè)缺陷圖像實(shí)時(shí)顯示,且可根據(jù)需要勾選所需要檢測(cè)的缺陷種類;
檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,各種缺陷單獨(dú)統(tǒng)計(jì),后臺(tái)保存歷史檢測(cè)數(shù)據(jù),方便查詢追溯;
操作簡(jiǎn)單方便,無論是新手還是技術(shù)工人,都可以快速學(xué)會(huì);
可根據(jù)需要,對(duì)功能進(jìn)行定制,以適應(yīng)用戶實(shí)際生產(chǎn)的需求。
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